Szum mi się nie zgadza, nie powinno się dzielić przez crop?FF: ogniskowa 135mm;
f/2,8;
ISO 640
APS-C: ogniskowa 85mm (135/1,6);
f/1,8 (2,8/1,6);
ISO 1600 (640*1,6^2)
Szum mi się nie zgadza, nie powinno się dzielić przez crop?FF: ogniskowa 135mm;
f/2,8;
ISO 640
APS-C: ogniskowa 85mm (135/1,6);
f/1,8 (2,8/1,6);
ISO 1600 (640*1,6^2)
Ostatnio edytowane przez busz ; 10-01-2015 o 19:25
| D7100 | 12-24/4 | 70-200/2.8 | 150-600/5-6.3 |
https://500px.com/p/m_kowalczyk?view=galleries
EOS R5, RF 14-35/4L, RF 24-105/4L, RF 70-200/4L, RF100-500L, C35/2 IS, C70-300L IS, M6II, M11-22, M22, M32, S56/1.4, M55-200
A czy szanowni koledzy wzięli pod uwagę że :
- to nie powierzchnia matrycy np. szumi tylko szumią piksele ?
- są w użyciu matryce FF i APS-C o różnych technologiach, z różnych lat produkcji ?
- że z dwu dostępnych na rynku matryc, APS-C i FF , ta która więcej szumi może być zarówno APS-C jak i FF ?
jp
puste opakowania po EF 24-70/2,8 I, 580EX, GP-E2 oraz 2 statywy i pilot RMT-DSLR2
Sony A7R Mark III,[B] FE 1.8/20G, FE 1.4/35GM, 85mm 1:1.4 DG DN, FE 1.8/135GM,
http://www.dpreview.com/galleries/51.../photos#page=1
public.fotki.com/janusz-pawlak/
jesli przyjac taka sama ilosc pikseli na matrycy, to w przypadku cropa matryca dostaje 2,2 do 2,5-krotnie mniej fotonow na piksel. co odpowiada ni mniej ni wiecej 1.16 do 1.33 EV roznicy w sygnale.
jesli przyjmiemy taki sam pixel-pitch, to matryca pelnoklatkowa ma tych pikseli 2,2 do 2,5 raza wiecej. przy usrednieniu wychodzi tez 1.16 do 1.33 EV przewagi w jakosci sygnalu wejsciowego...
to jest akurat niezmiennik, na chwile obecna praktycznie niezalezny od technologii matrycy (mikrosoczewki i odstepy miedzy pikselami moga robic drobne roznice, ale to zdaje sie juz od paru lat jest wyrownane technologicznie).
roznice pojawiaja sie natomiast w momencie probkowania tego sygnalu, czyli technologii samej matrycy...
na to oczywiscie nie ma rozwiazania i takie porownywanie roznych procesow moze byc niemiarodajne. natomiast nieodmiennie uklad z duzo lepszym sygnalem wejsciowym ma wieksze szanse generowac lepszej jakosci pomiary...